这一期我们主要聊测试,很多人觉得为什么相同的芯片卖不同的价格,同样是主频4G,为什么一个可以卖的贵,一个卖的便宜,一个性能好,一个性能差?所以在看任何参数的时候,那个数字真的只是做参考的。所以我们这一期先聊芯片测试是怎么测试的。再聊一下芯片测试的黑幕。
前几期都是围绕半导体产业链中游的foundry这个话题进行,包括foundry是干嘛的,MOS的工作原理,MOS在foundry是怎么制作的。这一期我们就聊产业链低端的封测。
如果说中国的半导体事业哪方面比较强,那一定是封装和测试了。虽然说不是全球最强大的,但是相比fabless和foundry,封测工厂已经很好了。我们先看一下2017年全球封测厂的排名情况。

前十名分别是日月光(ASE,台湾地区),安靠(Amkor,美国),长电科技(江苏),矽品(SPIL,台湾地区),力成(PTI,台湾地区),天水华天(甘肃),通富微电(江苏),京元电子(KYEC,台湾),联合科技(UTEC,新加坡),南茂科技(台湾)。中国大陆地区的长电科技和华天科技进入前十,而且长电科技全球市占率将近12%。这个已经很不错了。
封测其实是两个动作,包括封装和测试。我们还是拿出铸刀的那个例子。当我们已经铸完刀之后,是不是应该拿个树枝来测试一下这把刀到底锋不锋利,如果可以砍断树枝,就说明这个刀是锋利的,这就是测试的意思。测试完了之后是不是还要装上刀柄,做一个刀鞘之类的,这就是封装的意思。
foundry制作完一篇wafer后,并不是把晶圆给fabless,而是给封测厂。封测厂拿到这一片晶圆后,先进行晶圆级测试,不对晶圆做任何处理,直接把晶圆送到测试设备中进行测试(当然测试什么,怎么测试,都是fabless决定的)。然后记录这一片晶圆中哪些芯片是好的,哪些芯片是坏的。然后再把这片晶圆切割成很多单个芯片,将那些刚才测试没有问题的芯片单独拿出来,在他外面包装一个黑盒子来防止环境影响。就变成了这个样子。然后再把这些黑盒子寄给最终客户。

OK,我相信宏观上你已经了解封装与测试,下面的内容是这一期的重点内容,着重聊一下芯片晶圆测试,封装测试与系统测试方法。
现在我们假设这片wafer已经制作完成了,而且已经寄给测试厂,测试厂在拿到wafer之后,要进行测试了,具体要测什么?怎么测?在什么温度下测试?这些都需要fabless提前研究好,直接给测试厂的。测试厂需要做的就是把wafer放到机器里面,将写好的测试程序输入到机器。然后进行测试,记录哪些芯片是好的,哪些是差的就可以了。
但是你以为拿到通过测试的芯片就真的是好芯片吗?你太天真了,我们先了解一下测试的流程,再说一些测试的黑幕。
芯片的测试流程根据不同的测试阶段,可以分为三类:晶圆测试,封装测试和系统级测试。
晶圆测试也叫CP(Chip Probe,各家叫法可能会有点不同),就是直接将一整片晶圆放到机台里面进行测试。类似于下图的样子。

被测试的晶圆放在支架上(实际上不是叫支架啦,好理解就可以),上面固定probe card(俗称针卡),在测试的时候,所有的测试程序都是通过probe card传输到晶圆上。测试完一个芯片,支架会移动(probe card是固定不动的)继续测试另外的芯片。
这里再聊一下关于probe card,它是长这个样子的,第一张图是一个整体样子,第二张图是一个将中间部分放大的图(当然这两个图是来源于不同的probe card哈,都是在网上找的图片)。


整个probe card上有很多电路和铜线,你可以简单的理解为测试机台将需要测试的电压加到probe card的引脚上,然后再通过里面的电路稳定,转换,最后传输到第二张图里面中间银色的针上。再通过这些非常非常细的针扎到芯片的引脚上(注意,这个时候芯片还没有封装,所以没有引脚,只有pad,可以说是这些探针扎到pad上)。所以就这样,机台将所需要的测试电压加到芯片上进行测试。
晶圆测试一般会测试很多遍,比如常温测试一遍基本功能(俗称CP1或者sort1),高温烘烤之后再测试一遍(俗称CP2),再在客户想要的条件下测试一遍(CP3)。当然,这些顺序在各家都不太一样,但是过程都差不多。有些小的fabless由于出不起测试的费用,所以会省去CP2,CP3.只测CP1.当然也有一些特别小的fabless,为了省钱,就不测CP。拿到wafer直接切割成每颗芯片,进行封装,然后测试。
在晶圆测试后,将好的芯片在晶圆上标记出来(又叫blue tape),然后切割成一个一个单独的芯片,将这些一个一个的芯片封装成黑盒子,也就是这个样子。

然后我们将一堆黑盒子芯片,分别装进socket中,然后再将socket装进一个board中,哎呀,这又涉及到一些新概念,我就再多说一些吧。
首先我们要知道,在FT测试中是不需要probe card的。那该怎么测试呢?在封装完之后得到上面图形的黑盒子芯片。可以看到,上面有很多银色的金属引脚,这个时候用CP端的probe card肯定是不行了,最好的办法就是找一个插座,将这些带引脚的芯片插在插座上,然后给插座供电就可以测试了啊,这个插座就叫做socket,所以直接在socket上加电压,电流就可以了。

到这里还有一个问题,就是这样一个一个测试芯片太慢了,最好是把这些socket都放在一起。然后测试效率就大大升高。所以我们把这些socket都放在一个板子上,这个板子就叫做test tray(也叫board)。那socket和test tray是什么关系呢?看下图。

在测试的时候,将test tray放到测试机台上,测试机台将需要的电压电流加到test tray上的接口,然后再通过test tray上的电路,将这些电压电流加到socket上,socket再把电压电流加到芯片上。这就是FT测试的大概流程。
如果还不理解,你就看一下你们家的电源插排,那跟主电源线就是测试机台,那个插排就是test tray,插排上每一个插孔就是socket,你把电器插到插孔上,电器就是芯片。
嗯,我相信你已经懂了~至于有哪些封装方式,我们下一期聊
最后将测试结果标记出来,然后将好的芯片寄给fabless。
测试厂将已经封装好,而且通过测试的芯片寄给fabless,fabless拿到芯片后,会将这些芯片安装的系统板上,类似于这样。

然后在系统板上测试你相应的功能,看看这个芯片能不能符合你所需要的参数。这就是系统级测试。系统级测试大部分都是抽样测试。其实如果到了这一步,还发现有坏的芯片,后果已经很严重了,因为你不知道还有多少产品还有有问题,完全不能评估有多大的影响。
